SJ/T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

无忧资源网2024-08-22 22:20 117 浏览
点赞2 收藏
内容介绍

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。 SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 SJ/T11399-2009

评论0评论
游客